當(dāng)我們?cè)趹?hù)外用紅外測(cè)溫儀進(jìn)行電力設(shè)備紅外檢測(cè)時(shí)，檢測(cè)儀器所接收的紅外輻射除了受檢設(shè)備相應(yīng)部位的輻射還有其自身發(fā)射的輻射，以外，還會(huì)包括設(shè)備其他部位和背景的反射，以及直接射入太陽(yáng)輻射。這些輻射都將對(duì)設(shè)備待測(cè)部位的溫度造成干擾，對(duì)故障檢測(cè)帶來(lái)誤差。

為了減少環(huán)境與背景輻射的影響，應(yīng)采取如下對(duì)策措施：

盡可能選擇在陰天或者在日落左右傍晚無(wú)光照時(shí)間進(jìn)行

這樣可以防止直接入射、反射和散射的太陽(yáng)輻射影響，對(duì)戶(hù)內(nèi)設(shè)備可以采用關(guān)掉照明燈，以及要避開(kāi)其他的輻射影響。

對(duì)于高反射的設(shè)備表面

應(yīng)該采取適當(dāng)措施來(lái)減少對(duì)太陽(yáng)輻射及周?chē)邷匚矬w輻射的影響?；蛘吒淖儥z測(cè)角度，找到能避開(kāi)反射的最佳角度進(jìn)行檢測(cè)。

為減少太陽(yáng)輻射及周?chē)邷乇尘暗妮椛溆绊?

可在檢測(cè)時(shí)采取適當(dāng)?shù)恼趽醮胧?，或者在紅外熱像儀器上加裝適當(dāng)?shù)募t外濾光片，以便濾除太陽(yáng)及其他背景輻射。

選擇參數(shù)適宜的儀器和檢測(cè)距離進(jìn)行檢測(cè)，使受檢測(cè)的設(shè)備部位充滿(mǎn)儀器視場(chǎng)，從而減少背景輻射的干擾